Apakah Fungsi Pengujian ICT?

I. Fungsi am ujian ICT

1. Kilang SMT SMD boleh mengesan semua bahagian pada papan litar yang dipasang dalam beberapa saat, seperti perintang, kapasitor, induktor, triod, tiub kesan medan, diod pemancar cahaya, diod biasa, diod pengawal voltan, optocoupler, IC, dsb. bekerja dalam spesifikasi reka bentuk.

2. Adalah mungkin untuk menentukan lebih awal kecacatan proses pengeluaran PCBA seperti litar pintas, litar rosak, bahagian yang hilang, sambungan terbalik, bahagian yang salah, pematerian kosong, dan lain-lain dan memberi maklum balas kepada proses untuk penambahbaikan.

3. Kerosakan atau keputusan ujian di atas boleh dicetak, termasuk lokasi kerosakan, nilai standard bahagian dan nilai ujian untuk dirujuk oleh kakitangan penyelenggaraan.Kebergantungan kakitangan kepada teknologi produk dapat dikurangkan dengan berkesan.Walaupun kakitangan tidak mempunyai pengalaman dalam litar pengeluaran smt, mereka masih mampu membuat sumbangan.

4. Kegagalan ujian boleh ditentukan dan pemproses smt boleh menganalisis maklumat untuk menentukan punca kecacatan, termasuk faktor manusia.Ini supaya mereka dapat menangani, membetulkan dan menambah baik keupayaan pembuatan dan kualiti papan litar.
 
II.ciri khas ujian ICT

Teknik ujian kekutuban kapasitor elektrolitik:

Kapasitor elektrolitik disambungkan ke belakang, bahagian yang hilang 100% boleh diuji Kapasitor elektrolitik selari disambungkan ke belakang, bahagian yang hilang 100% boleh diuji

Prinsip operasi teknologi ujian kekutuban kapasitor elektrolitik:

1. SMTkilang pemprosesan cip adalah untuk menggunakan kaki ketiga untuk kapasitor elektrolitik atas memohon isyarat pencetus, mengukur isyarat tindak balas antara titik ketiga dan kutub positif atau negatif.

2. Selepas pengiraan dengan teknologi DSP (Digital Signal Processing), ia ditukarkan kepada set vektor oleh DFT (Discrete Fourier Transform) dan FFT (Fast Fourier Transform).Isyarat tindak balas yang diperolehi ditukar daripada domain t (masa) (isyarat osiloskop) kepada set vektor dalam domain f (frekuensi) (isyarat penganalisis spektrum).

3. Satu set nilai vektor piawai diperoleh melalui pembelajaran dan kemudian nilai diukur DUT (peranti dalam ujian) dibandingkan dengan nilai piawai asal dengan menggunakan Padanan Pola (pengiktirafan ciri dan teknik perbandingan) untuk menentukan sama ada kekutuban objek yang diuji adalah betul.

Padanan Corak digunakan dalam aplikasi seperti pengecaman cap jari, pengecaman mata wang palsu dan pengecaman retina.

ND2+N8+AOI+IN12C

Ditubuhkan pada 2010 dengan 100+ pekerja & 8000+ Sq.m.kilang hak milik bebas, untuk memastikan pengurusan standard dan mencapai kesan ekonomi yang paling serta menjimatkan kos.

Memiliki pusat pemesinan sendiri, pemasang mahir, penguji dan jurutera QC, untuk memastikan kebolehan yang kukuh untuk pembuatan, kualiti dan penghantaran mesin NeoDen.

3 pasukan R&D berbeza dengan jumlah 25+ jurutera R&D profesional, untuk memastikan perkembangan yang lebih baik dan lebih maju serta inovasi baharu.

Jurutera sokongan & perkhidmatan bahasa Inggeris yang mahir dan profesional, untuk memastikan tindak balas segera dalam masa 8 jam, penyelesaian disediakan dalam masa 24 jam.

Yang unik di antara semua pengeluar China yang mendaftar dan meluluskan CE oleh TUV NORD.


Masa siaran: Mei-09-2023

Hantar mesej anda kepada kami: